تم اكتشاف قصر في الدائرة بين خط الطاقة والأرضي في بطاقة SD بسعة 32 GB. وبسبب البنية الأحادية للبطاقة، حُدِّد موقع العطل باستخدام الأشعة السينية والكاميرا الحرارية. وبعد إزالة مكثفين صغيرين عند حافة الحزمة، اختفى القصر وعادت البطاقة إلى العمل. وأظهرت الحادثة أن العطل قد يكون ناتجًا عن مكونات سلبية، وليس عن الذاكرة ووحدة التحكم.
لماذا هذا مهم
تُظهر هذه الحالة أن تشخيص الأعطال في بطاقات SD أحادية البنية لا يمكن أن يقتصر على شريحة الذاكرة ووحدة التحكم. فالبنية التي يتعذر الوصول إليها من الخارج تجعل استبدال الجزء المعطّل مباشرة أمرًا صعبًا، بينما تضع وسائل مثل الأشعة السينية والكاميرا الحرارية في صميم عملية التشخيص. وإمكانية أن تكون المشكلة ناجمة عن مكونات سلبية تشير إلى ضرورة عدم التوصل مبكرًا إلى أن البطاقة غير قابلة للاستخدام بالكامل في الحالات المماثلة. ومع ذلك، فعلى الرغم من أن إزالة القصر أتاحت للبطاقة العودة إلى العمل، يبقى سؤال مفتوح يتمثل في أن مثل هذه التدخلات لا توضح دائمًا حالة البيانات الموجودة عليها. ويكشف هذا الإصلاح أن المكونات الصغيرة يمكن أن تكون حاسمة في تشغيل معدات التخزين.